第一,檢測(cè)開關(guān),是一種用來檢測(cè)內(nèi)部機(jī)械運(yùn)動(dòng)的設(shè)備,它能把人們的人工操作,如打開車門等,變成電子信號(hào)。其次是由機(jī)械滑動(dòng)彈簧提供動(dòng)力的設(shè)備,它可以在任何位置和方向上進(jìn)行移動(dòng)以實(shí)現(xiàn)信號(hào)輸出。驅(qū)動(dòng)角度可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)節(jié),也可以通過表面安裝的方式與J型端子配合使用。由于它體積小、重量輕和可靠性高,所以在一些要求小體積、高可靠性、低價(jià)格的場(chǎng)合中得到了廣泛的應(yīng)用。另外,檢測(cè)開關(guān)還可用作一種特殊的傳感器使用。檢測(cè)開關(guān)原料為銅和聚碳酸酯。
二是檢測(cè)開關(guān)運(yùn)行中可能出現(xiàn)的多種故障,主要有但不僅限于初期運(yùn)行故障,偶爾出現(xiàn)故障,負(fù)載短路及接線錯(cuò)誤,干擾波造成的破壞。檢測(cè)開關(guān)主要有光電開關(guān)、接近開關(guān)以及半導(dǎo)體。半導(dǎo)體的早期失效有兩種情況:一種是由于芯片本身質(zhì)量問題而造成的;另一種是由外部因素或環(huán)境條件所產(chǎn)生的。其中最常見的是由于外界溫度變化所引發(fā)的。究其原因,電路所用半導(dǎo)體制造時(shí)承受了多種應(yīng)力,使其在使用之初的極短時(shí)間內(nèi)即出現(xiàn)破裂現(xiàn)象;二是電阻、電容比半導(dǎo)體低也是造成使用之初出現(xiàn)故障的一個(gè)因素。
最后是檢測(cè)開關(guān)初始故障出現(xiàn)時(shí)間要看制造方法而不能籠統(tǒng)。在正常情況下,由于元器件老化導(dǎo)致元件表面出現(xiàn)微小裂紋時(shí),也會(huì)引發(fā)開關(guān)早期失效;而當(dāng)這些微裂紋擴(kuò)展到一定程度時(shí),就可能造成整個(gè)電路功能喪失或無法工作。一般出現(xiàn)于起用后1~10天。另外,偶然故障還有半導(dǎo)體器件的缺陷,斷開,短路,電阻和電容容量不夠,線路板斷線和焊接等原因造成的,其發(fā)病率很低。